根據(jù)相對測量工具的不同，大理石平臺檢測分為指示器法和光隙法兩種。
       1、指示器法：指示器法是以指示表（百分表、千分表或測微表）將被測尺寸于標(biāo)準(zhǔn)尺寸進(jìn)行比較，測出被測尺寸于標(biāo)準(zhǔn)尺寸之差的一種方法。測量時(shí)用大理石平臺工作面作為測量基面，按一定的布點(diǎn)方式，用指示表逐點(diǎn)測量并記錄讀數(shù)，然后按一定的方法評出平面度誤差值。原則上應(yīng)采用小區(qū)域法評定平面度誤差，但是在實(shí)際檢測中經(jīng)常采用近似的評定方法，一種方法是在測量前，調(diào)整被測實(shí)際表面上相距遠(yuǎn)的三點(diǎn)距大理石平臺等高，然后在被測表面上均勻劃線布點(diǎn)逐點(diǎn)進(jìn)行測量并記錄數(shù)據(jù)，取各測點(diǎn)中的大讀數(shù)值與小讀數(shù)值之差，作為被測的平面度誤差值，此法稱為三點(diǎn)法。另一種方法是將實(shí)際表面一個(gè)對角方向上的兩個(gè)遠(yuǎn)點(diǎn)也調(diào)至相對大理石平臺等高，再將另外一個(gè)對角方向的兩個(gè)遠(yuǎn)點(diǎn)也調(diào)至相對大理石平臺等高，然后在被測表面上均勻劃線布點(diǎn)逐點(diǎn)進(jìn)行測量，取各測點(diǎn)中的大讀數(shù)值與小讀數(shù)值之差作為被測表面的平面度誤差，此法稱為對角線法。
       對角線法和三點(diǎn)法都不符合小條件，所以評定出的誤差值均大于按小區(qū)域法評定出的誤差值，但是，由于這兩種方法檢測方便且經(jīng)濟(jì)實(shí)用，所以仍被實(shí)際測量所采用，如發(fā)生爭議，應(yīng)以小區(qū)域法評定的結(jié)果作為仲裁依據(jù)。

2、光隙法：光隙法則是用刀口尺、大理石平臺等將被測量于標(biāo)準(zhǔn)量差值表征為光隙大小的。這種方法是把被測零件放在大理石平臺上，使被測面與大理石平臺工作面接觸，輕微手動(dòng)零件一下，使零件穩(wěn)定地不受外力的影響*靠自重與大理石平臺接觸，用塞尺測零件四周，測得的大間隙就是被測零件的平面度誤差近似值。本辦法簡單、實(shí)用，特別適合于在生產(chǎn)現(xiàn)場對中小型蓋、板類零件平面度誤差的檢測。